当社最高科学責任者（CSO）木島健の論文が、世界的な学術出版社WILEY社の「Top Viewed Article」に選出されました。本論文は、学術誌『Advanced Electronic Materials』へのオンライン出版後1年間において、非常に多く閲覧された論文として高い評価を受けたものです。

「Top Viewed Article」は、世界中の研究者や技術者から高い関心を集めた論文に与えられる評価です。

本論文の選出は、当社の技術的貢献への世界的な関心の高まりを示すものであり、当社技術への注目度が着実に拡大していることを示すものと考えております。

本論文では、高品質な単結晶PZT薄膜メモリをSi基板上に作製し、その抵抗変化特性を調査しました。ZrO₂下地とスピンコート法を用いることで、強誘電性と電圧制御可能な抵抗変化特性を確認いたしました。抵抗変化の主因が低電圧では分極、高電圧では界面欠陥にあることを明らかにし、Siベースのメモリスタ応用への可能性を示しています。

■ 掲載論文

H.Li, T.Kijima, H.Yamahara, H.Tabata, M.Seki, Epitaxial Single-Crystalline PZT Thin Films on ZrO2-Buffered Si Wafers Fabricated Using Spin-Coating for Mass-Produced Memristor Devices. Adv. Electron. Mater.2025, 11, 2400280.

URL: https://doi.org/10.1002/aelm.202400280